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            訪問次數:1529

            查看詳細介紹
            ME-210-T膜厚測量儀為一種光學系膜厚測量裝置,這個裝置的特點是可以高精度測量1nm一下的極薄膜,也適合測量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術,將不能變為可能,以往的技術是無法測量0.5mm厚的玻璃基板,在這項技術下,可進行極薄膜的高精度測量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評估,也可運用ME-210-T輕松達成。
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