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          應力雙折射測量系統

          • 型 號:WPA-200
          • 訪問次數:3999
          • 更新時間:2024-03-13
          • 價   格:

          應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術開發的產品,*的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

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          WPA系列可測量相位差高達3500nm,適合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術開發的產品,*的測量技術,使其成為*的光學測量產品。 應力雙折射測量系統在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量,全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器,適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果,二維圖表可以更直觀的讀取數據。

          應力雙折射測量系統WPA-200主要特點:

          • 操作簡單,測量速度可以快到3秒。

          • 采用CCD Camera,視野范圍內可一次測量,測量范圍廣。

          • 測量數據是二維分布圖像,可以更直觀的讀取數據。

          • 具有多種分析功能和測量結果的比較。

          • 維護簡單,不含旋轉光學濾片的機構。

          • *很高的殘余應力測量設備。


          主要應用:

          · 光學零件(鏡片、薄膜、導光板)

          · 透明成型品(車載透明零件、食用品容器)

          · 透明樹脂材料(PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC)

          · 透明基板(玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石)

          · 有機材料(球晶、FishEve)


          技術參數:

          項次

          項目

          具體參數

          1

          輸出項目

          相位差【nm】,軸方向【°】,相位差與應力換算(選配)【MPa】


          2

          測量波長

          520nm、543nm、575nm


          3

          雙折射測量范圍

          0-3500nm


          4

          測量小分辨率

          0.001nm


          5

          測量重復精度

          <1nm(西格瑪)


          6

          視野尺寸

          218x290mm-360×480mm(標準)


          7

          選配鏡頭視野

          無選配


          8

          選配功能

          實時解析軟件,鏡片解析軟件,數據處理軟件,實現外部控制,CD模式




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